ディスプレイ測定用システムおよびアクセサリ

Instrument Systemsは、ディスプレイの特性を分析するターンキーシステムを開発しました。 これらのシステムはそれぞれ、高速分光測光器CAS140 CTまたは高分解能型分光器SPECTRO 320と輝度測定用プローブTOP200を搭載しています。

各種ターンキーシステムは特定の用途分野向けに最適化されており、非常に正確で信頼性の高い測定結果を提供します。

型式

分光器の種類

用途分野

DTS140

CAS140 CT
CCDアレイ付属

あらゆる種類のディスプレイとパネルグラフィックスの全般

DTS140 NVIS

CAS140 CT
CCDアレイ付属

MIL-L-85762Aに準拠したディスプレイの暗視(NVIS)適合性の測定

DTS320 NVIS

SPECTRO 320
光電子増倍管付属

0.01 fLでNVISを測定するための最大測定感度とダイナミックレンジ

アクセサリー

種類

用途分野

マニュアルポジショナーDTS400

 

試験サンプルと測定装置を手動で位置決めするための多機能ラック

自動位置決めシステムDTS500

 

ステッピングモーター制御装置付き総合的5軸位置決めシステム

分光放射計を5軸位置決めシステムDTS500やXYZ位置決めシステムDTS400と一緒に使用すれば、ディスプレイの均質性や角度依存特性の全自動測定も可能になります。

光放射を受ける望遠光学プローブTOP200と特許取得済みのモードミキサ付きフレキシブル光ファイバーには、以下のような利点があります。

  • 測定絞りとスペクトル分解能を同時に減結合してプリチャード方式の光学設計を改良(帯域通過)
  • 校正を損なわずに光学プローブの交換が可能(Instrument Systemsのアクセサリーはすべてプラグアンドプレイ対応)
  • TOP200で実行する全機能をソフトウェアで制御可能
  • 非常に低い偏波感度

TOP200にはさまざまなレンズが用意されており、それらのレンズは差し込み接続によって簡単に交換できます。 これによって広範な測定スポットサイズやディスプレイとの距離に対応します。

Instrument Systemsは分光放射測定ソリューション以外にも、2次元ディスプレイ試験用の結像測光測色計LumiCamシリーズも用意しています。 広範なソフトウェアパッケージには、測定分析とレポートの包括的な機能が揃っています。