DTS320 NVIS - NVISを0.01 fLで測定するための基準

Instrument Systemsは、特にディスプレイやパネルをそれぞれMIL-L-85762AとMIL-STD-3009に準拠してテストするためのDTS320 NVISを開発しました。 このシステムは高性能の高分解能型分光器SPECTRO 320をベースとし、冷却式光電子増倍管PMT3と輝度測定用プローブTOP200を内蔵しています。

DTS320 NVISディスプレイ測定用システム
DTS320 NVISは最適な性能を提供し、発売以来軍用航空業界や広く知られた試験研究機関で基準分光放射輝度測定システムとして採用されるようになりました。 感度が非常に高いため、0.01 fL以下のNVIS放射輝度も測定できます。 また、市販の分光放射計としては唯一、グラスコックピット用に設計された最新型LCDディスプレイのNVIS黒体放射輝度を確実に測定できます。

DTS320 NVISの高い走査速度と信号感度により、NVIS放射輝度(NR-A、NR-B、NR-C)を1分以内に精密測定できます。 DTS320 NVISの標準構成では、光電子増倍管が-5℃までの内蔵冷却システムを装備されるので、モバイル向けに使用可能です。 信号の雑音をさらに抑制するため、-10℃までの外付冷却システムのオプションも選択できます。

DTS320 NVISの技術仕様:

DTS320-202 NVIS

測定波長範囲

380~930 nm

波長精度

+/- 0.2 nm

スペクトル波長幅(半値幅)

0.5~10 nmにプログラムで設定可能

最大感度(放射輝度)

10E-12 W/cm² sr nm
10E-13 W/cm² sr nm (DFI*使用時)

最大感度(輝度)

0.005 cd/m² または 0.0015 fL

輝度および色度の測定時間

5 s @ 1 cd/m² (0.3 fL)

NVIS放射輝度の測定時間

1~2分

* DFI: クロスセクションコンバータ付きOFG-625バンドルファイバルのダイレクトファイバ入力